3.3 Дослідження елементного складу плівок Cd1-xMnxTe

 

 

Для вивчення елементного  складу  та  стехіометрії  плівок  CdTe нами була зроблена спроба застосувати метод Резерфордівського зворотного розсіювання (РЗР) іонів гелію-4 та протонів [39]. Однак внаслідок перекриття піків від кадмію та телуру у спектрах навіть для плівок з малою товщиною (d=0,3 мкм) це зробити не вдалося. Аналогічна ситуація спостерігалася і для плівок Cd1-xMnxTe.

Тому елементний склад конденсатів досліджувався методом рентгенівського мікроаналізу [25]. Типові характеристичні спектри від плівкових зразків Cd1-xMnxTe наведені на рис. 3.11.

Як видно з рисунку на спектрах виявляються тільки лінії Cd, Te, та в деяких випадках на межі чутливості методу - Mn. Це свідчить про те що вміст марганцю у плівках не перевищує 4-5 %. При присутність марганцю у плівках у кількості 2-4% свідчить збільшення ширини ЗЗ матеріалу порівняно з плівками чистого CdTe [40]

 

Для отримання шарів з більшим вмістом марганцю в процесі нанесення плівок проводилося співвипаровування марганцю одночасно з шихтою CdTe. Склад отриманих плівок аналізувався методом PIXE. Розподіл марганцю в отриманих шарах та спектри PIXE у двох різних довільних точках зразка наведені на рис. 3.12 та 3.13. Як видно з наведено рис. 3.7 розподіл марганцю у плівках досить однорідний, хоча іноді спостерігаються області з підвищеною концентрацією цієї домішки.

 

За спектрами PIXE з використанням  програми GUPIXWIN визначено масову концентрацію елементів у плівці: Cd 27%, Te 61,4 %, Mn 11,6 %. Перерахунок цих величин у атомні концентрації дає такі значення вмісту компонентів у конденсаті:  Cd - 0,26, Te - 0,51, Mn - 0,23 відповідно.